供应HPAHPAHPA

?HPA测量时间: .ms/ms/ms(典型值)
HPA测量范围 测量参数 kHz MHz正常模式
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Agilent A|HP-A|HPA|电桥|LCR测试仪|惠普
品牌:安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
A技术指标:
A测量参数 C-D.Q.ESR.G
A测试信号
A频率: kHz和MHz±.%
HPA信号电平: .~Vrms,±%(C≤μf),以.Vrms步进
HPA测量时间: .ms/ms/ms(典型值)
HPA测量范围 测量参数 kHz MHz正常模式
MHz高精度
A电缆长度补偿 ,或m
Agilent A比较器:对电容的仓室分类.对D.Q.ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
(存储卡可任选.参见下面的选件).
A一般技术指标Agilent A
★测量速度:.ms/ms/ms
★测量参数:C-D,Q,ESR,G
★C-D测量精度:.%,.(kHz,ms)
★.%,.(MHz,ms)
Agilent A详细资料:
HPA测量速度:.ms/ms/ms
HPA测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:.%,.(kHz,ms)
.%,.(MHz,ms)
A
技术指标:
测量参数
C-D.Q.ESR.G
测试信号
频率:
kHz和MHz±.%
信号电平:
.~Vrms,±%(C≤μf),以.Vrms步进
测量时间:
.ms/ms/ms(典型值)
测量范围
测量参数
kHz
MHz正常模式
MHz高精度
C
.pF~.μF
.pF~.pF
.pF~.pF
D
.~.
.pF~.
.pF~.
电缆长度补偿
,或m
比较器:
HPA对电容的仓室分类.对D.Q.ESR和G的合格/不合格测试
HPA存储卡插槽
HPA外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用(存储卡可任选HPA参见下面的选件
gilent A kHz/MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器.用于生
HPA产线和质量控制中作电容器的进出厂检.Agilent A 能改善小电容量和中等电
HPA容器的测试效率(可测量以μF.这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值).
HPA一般技术指标:
HPA工作温度/湿度
°~℃.在℃时相对湿度为%
电源
,,Vac±%,Vac+-%,~Hz,V
Amax
尺寸
约mm(宽)*mm(高)*mm(长)(.英寸*.英寸*.英寸)
重量:
约kg(磅.标准)
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