器件运动周期/谐振频率/幅值/纳米操纵等测试系统

布鲁克Bruker原子力显微镜ARM/表面形貌/粗糙度/电学/磁学性能测量系统
Bruker公司的AFM具有多项专利技术，以其卓越的性能广泛应用于科研和工业界各领域
Dimension Edge原子力显微镜采用了布鲁克的一些创新技术，达到了同类产品的最高水平，为纳米尺度的科学研究提供了高效率、高性价比的强大工具。

应用：
应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。

原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。
主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。

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